產(chǎn)品名稱：美國DAKOTA ZX-6DL超聲波測厚儀

美國DAKOTA ZX-6DL超聲波測厚儀
特點：
- 120MHz FPGA時序電路設(shè)計
- 150v方波脈沖發(fā)生器
- 脈沖-回波測量模式和回波-回波(穿透涂層)測量模式
- 40~52dB可調(diào)增益，以3dB為步長，可選超低、低、中、高、超高五檔
- 時間相關(guān)增益(TDG)
- 可選擇手動或自動探頭校零
- 低溫定制液晶顯示屏(-30℃)
- USB Type-C數(shù)據(jù)接口
- 32M閃存內(nèi)部數(shù)據(jù)存儲器(ZX-6DL)
- IP65防護等級

美國DAKOTA ZX-6DL超聲波測厚儀
技術(shù)參數(shù)
測量
脈沖-回波(P-E)模式測量范圍：0.63~914.4mm(鋼)
回波-回波(E-E)模式測量范圍：2.54~152mm
涂層范圍0.0254~1.905mm，取決于材料、探頭頻率和直徑
單位：英制和公制
分辨率：0.01mm
聲速范圍：305~18542m/s
脈沖重復(fù)頻率：200Hz
顯示刷新頻率：10Hz
增益：40~52dB，步進3dB
時間相關(guān)增益( TDG ) : 根據(jù)所選探頭和頻率，可用于脈沖-回波和回波-回波模式

顯示
多功能7段4位半數(shù)字液晶顯示器，數(shù)字高度為12.7mm
兩個3.2mm14段顯示區(qū)和一 個7段顯示區(qū)，用于顯示信息和數(shù)值
附加的圖標表示功能和模式
可選擇背光(開/關(guān)/自動)，可選擇亮度(低/中/高)
條形讀數(shù)穩(wěn)定性/重復(fù)性指示

功能
探頭校零：手動和自動校零
探頭直徑：可選擇探頭直徑以提高線性
高速掃描模式： 顯示掃描期間的*小讀數(shù)，掃描頻率為100Hz
差值模式：顯示測量值和輸入的標稱值的差值
報警模式：上下限聲光報警
聲速測量模式：用于球化率的測量

探頭
頻率范圍：1~10MHz
雙晶探頭
LEMO接口，1.2米探頭線
可定制用于特殊應(yīng)用的探頭

存儲
可存儲40組，每組250個數(shù)據(jù)，共10000個數(shù)據(jù)(ZX-6DL)

其他
鍵盤：防水防油密封按鍵膜，九個觸感反饋按鍵
電源：標配為兩節(jié)5號堿性電池 ，可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示。無操作五分鐘后自動關(guān)機。USB Type-C供電。
尺寸：63.5x131.3x31.5mm
重量：312g(含電池)
操作溫度：-30~75℃
外殼：擠壓鋁制外殼，底蓋為鎳板鍍鋁，環(huán)保封裝
包裝：ABS工程塑料箱
出廠證書：工廠校準可追溯到NIST和MILSTD-45662A標準

常用探頭：

型號	頻率	探頭晶片直徑	探防磨面直徑	測量范圍	說明
PT-102-2700	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm    穿透模式：2.54~25.4mm	標準高阻抗探頭
PT-101-2700	5.0MHz	4.76mm	6.35mm	1.0～50mm	小管徑高阻抗探頭
PT-101-2000	5.0MHz	4.76mm	6.35mm	1.0～50mm	小管徑探頭
PT-104-0000	1.0MHz	12.7mm	15.88mm	3.8～50.8mm(鑄鐵中)	鑄鐵探頭
PT-104-9700	3.5MHz	12.7mm	15.88mm	2.5～100mm    穿透測量3.2~100mm    涂層厚度*大可達1.9mm	大范圍高阻抗探頭
PT-102-3300	7.5MHz	6.35mm	9.53mm	0.63～152mm	超薄探頭
PT-104-2700	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚高阻抗探頭
PT-104-2000	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚探頭
PT-042-2700	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	標準高溫高阻抗探頭，*高340℃
PT-042-2000	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	標準高溫探頭，*高340℃
PT-044-2700	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚高溫高阻抗探頭，*高340℃
PT-044-2000	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚高溫探頭，*高340℃
PT-212-2001	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	超高溫探頭，*高480℃
PT-214-2001	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚超高溫探頭，*高480℃

注：測試高溫表面時需用高溫耦合劑